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Product Center加熱高溫微型真空探針臺KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內部裝有不銹鋼加熱承載臺,臺面為φ30,臺面最高可升溫到最高400℃。臺面四周裝有微型3軸可移動鎢鋼探針,特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。
高低溫真空探針臺4探針探針臺主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。
低價的低溫室溫真空探針臺KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內部裝有不銹鋼加熱承載臺,臺面為φ30,臺面高可升溫到高400℃。
該探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環(huán)境下調節(jié),其中X方向調節(jié)范圍:0-30mm;y方向調節(jié)高低溫控制真空探針臺 * 范圍:0-13mm;z方向調節(jié)范圍:0-13mm;用戶可根據(jù)需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微調探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對準檢測點后,即可進行檢測。
光學環(huán)境真空微腔探針臺 測試腔:同時滿足靜態(tài)/動態(tài)測試,304不銹鋼材質,可在紫外燈下保證氣密性測試; 測試樣品數(shù):同時測試8個樣品,可進行頻率-阻抗測試、插指電極和場效應管測試;